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Korrelative Elektronen- und Lichtmikroskopie

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Bilddokumentation

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Kombinierte REM-EDX-, XRD- und Raman-Datensätze zur Mineral-/Phasenbestimmung
Rasterelektronenmikroskopie und REM-EDX am Hitachi S3700N: EDX-Mapping und standardlose EDX Messungen.

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Einkristalldiffraktometer Oxford XCalibur (CuKa): Einkristallstrukturbestimmung und Pseudo Gandolfi Pulverdiffraktogramme von polykristallinen Proben
Bragg Brentano Benchtop Diffraktometer: Rigaku Miniflex Gen. 6 600 W mit 1D D/tex Ultra Detektor

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Raman-Spektroskopie: Horiba Mikro-Raman Spektrometer mit 532nm, 632nm und 785nm Laser zur Molekül- und Fingerprint-Spektroskopie

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	Aluminium Stubs (0010) 3 Aluminium Stubs zur Erstellung von eigenen REM-EDX Trägern für Rasterelektronenmikroskopie. Die Aluminium Stubs bilden zusammen mit Art. Nr. 0009 (Carbon Pads) und Art. Nr. 0011 (Probenhalter) einen vollständigen Satz.	4.00 EUR inkl. 19 % MwSt.	Anzahl:	4.00 EUR inkl. 19 % MwSt.	Löschen

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