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Korrelative Elektronen- und Lichtmikroskopie
Bilddokumentation
Kombinierte REM-EDX-, XRD- und Raman-Datensätze zur Mineral-/Phasenbestimmung
Rasterelektronenmikroskopie und REM-EDX am Hitachi S3700N: EDX-Mapping und standardlose EDX Messungen.
Einkristalldiffraktometer Oxford XCalibur (CuKa): Einkristallstrukturbestimmung und Pseudo Gandolfi Pulverdiffraktogramme von polykristallinen Proben
Bragg Brentano Benchtop Diffraktometer: Rigaku Miniflex Gen. 6 600 W mit 1D D/tex Ultra Detektor
Raman-Spektroskopie: Horiba Mikro-Raman Spektrometer mit 532nm, 632nm und 785nm Laser zur Molekül- und Fingerprint-Spektroskopie
For making non-conductive samples conducting on carbon pad: Nanometer thick Gold coating for contrast enhanced SE imaging in HV mode of the SEM
Mineralanalytik Eu - Inhaber Joy Desor M. Sc. Physics - Am Joseph 21, 61273, Wehrheim, Deutschland