Beispiel 2

Am Joseph 21, 61273, Wehrheim +49 173 4688443 service@mineralanalytik.de Mo-Fr: 11.00 - 20.00

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Korrelative Elektronen- und Lichtmikroskopie

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Bilddokumentation

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Kombinierte REM-EDX-, XRD- und Raman-Datensätze zur Mineral-/Phasenbestimmung
Rasterelektronenmikroskopie und REM-EDX am Hitachi S3700N: EDX-Mapping und standardlose EDX Messungen.

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Einkristalldiffraktometer Oxford XCalibur (CuKa): Einkristallstrukturbestimmung und Pseudo Gandolfi Pulverdiffraktogramme von polykristallinen Proben
Bragg Brentano Benchtop Diffraktometer: Rigaku Miniflex Gen. 6 600 W mit 1D D/tex Ultra Detektor

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Raman-Spektroskopie: Horiba Mikro-Raman Spektrometer mit 532nm, 632nm und 785nm Laser zur Molekül- und Fingerprint-Spektroskopie

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Beispiel 2

xpic 4d

Moschellandsbergit xx auf Cinnabarit

Moschellandsberg, Obermoschel, Rheinland-Pfalz, Deutschland

Bildbreite: 2mm

Adresse

Mineralanalytik Eu - Inhaber Joy Desor M. Sc. Physics - Am Joseph 21, 61273, Wehrheim, Deutschland