JoomShopping Download & Support
Korrelative Elektronen- und Lichtmikroskopie
Bilddokumentation
Kombinierte REM-EDX-, XRD- und Raman-Datensätze zur Mineral-/Phasenbestimmung
Rasterelektronenmikroskopie und REM-EDX am Hitachi S3700N: EDX-Mapping und standardlose EDX Messungen.
Einkristalldiffraktometer Oxford XCalibur (CuKa): Einkristallstrukturbestimmung und Pseudo Gandolfi Pulverdiffraktogramme von polykristallinen Proben
Bragg Brentano Benchtop Diffraktometer: Rigaku Miniflex Gen. 6 600 W mit 1D D/tex Ultra Detektor
Raman-Spektroskopie: Horiba Mikro-Raman Spektrometer mit 532nm, 632nm und 785nm Laser zur Molekül- und Fingerprint-Spektroskopie
Mineralanalytik Eu - Inhaber Joy Desor M. Sc. Physics - Im Langenfeld 4, 61350 Bad Homburg vor der Höhe, Deutschland
We use cookies on our website. Some of them are essential for the operation of the site, while others help us to improve this site and the user experience (tracking cookies). You can decide for yourself whether you want to allow cookies or not. Please note that if you reject them, you may not be able to use all the functionalities of the site.